扫描电子显微镜

设备型号:

JEOL sm - 6010 + /洛杉矶

设备简介:

Russ学院提供JEOL JSM-6010PLUS/LA,供俄亥俄大学感兴趣的研究人员用于金属,陶瓷,聚合物和复合材料的表征。该仪器包括用于导电和非导电样品的几何和形态表征的显微镜,以及用于元素分析和分布的分光镜。该仪器由Denton真空工作台V补充,用于在表征之前对非导电样品进行预处理。

设备性能:

Transmission Electron Microscope 3 thumbnail
点击图片查看详细的PDF传单。
  • 样品中几何和化学分布的微纳米尺度表征
  • 定性元素分析原子大于锂通过点,线或面映射。比氧大的原子的定量元素分析。
  • 低真空模式表征不导电样品未经预处理
  • SEM和EDS在同一软件中进行,能够在几秒钟内从形态特征切换到元素特征。
  • 导出结果为各种格式,包括。jpeg、。docx和。pptx,以方便处理。

培训/技术帮助可用或需要使用设备?

设备使用费?

是的,55美元

 

修订04/25/23