
扫描电子显微镜
设备型号:
JEOL sm - 6010 + /洛杉矶
设备简介:
Russ学院提供JEOL JSM-6010PLUS/LA,供俄亥俄大学感兴趣的研究人员用于金属,陶瓷,聚合物和复合材料的表征。该仪器包括用于导电和非导电样品的几何和形态表征的显微镜,以及用于元素分析和分布的分光镜。该仪器由Denton真空工作台V补充,用于在表征之前对非导电样品进行预处理。
设备性能:

- 样品中几何和化学分布的微纳米尺度表征
- 定性元素分析原子大于锂通过点,线或面映射。比氧大的原子的定量元素分析。
- 低真空模式表征不导电样品未经预处理
- SEM和EDS在同一软件中进行,能够在几秒钟内从形态特征切换到元素特征。
- 导出结果为各种格式,包括。jpeg、。docx和。pptx,以方便处理。
培训/技术帮助可用或需要使用设备?
是
设备使用费?
是的,55美元
修订04/25/23